北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司銷售韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡，進(jìn)口工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌，主要產(chǎn)品包括手持式高清工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、進(jìn)口內(nèi)窺鏡、原GE內(nèi)窺鏡、直桿內(nèi)窺鏡、光纖內(nèi)窺鏡、管道爬行機(jī)器人等。

工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡是一種直觀洞察設(shè)備內(nèi)部缺陷的無損檢測(cè)設(shè)備。單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)是韋林視頻內(nèi)窺鏡旗艦產(chǎn)品搭載的先進(jìn)測(cè)量技術(shù)，與傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量（基于雙目成像原理）和比較測(cè)量技術(shù)相比較，使用更便捷、測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確。但是不少用戶對(duì)于這種測(cè)量技術(shù)還不是很了解，容易與其他測(cè)量技術(shù)、特別是傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量相混淆。本文特意梳理了單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)（簡(jiǎn)稱相位掃描測(cè)量技術(shù)）的特點(diǎn)，記住這幾點(diǎn)您就能識(shí)別要購買的內(nèi)窺鏡有沒有這項(xiàng)技術(shù)了。

1. 相位掃描測(cè)量鏡頭有相位光柵。因?yàn)閭鹘y(tǒng)測(cè)量技術(shù)只是被動(dòng)接受被檢測(cè)表面的反射光，而相位掃描測(cè)量技術(shù)會(huì)主動(dòng)向被檢測(cè)表面投射多幅移相光柵，并得到物體輪廓表面上的三維數(shù)據(jù)信息，因此在鏡頭上有專用的相位光柵。

2. 相位掃描測(cè)量是全屏圖像。單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量鏡頭采用廣角單視窗設(shè)計(jì)，捕獲測(cè)量圖像是全屏圖像，而雙物鏡測(cè)量技術(shù)因?yàn)槟７码p目成像的原理，因此捕獲的測(cè)量圖像是左右兩個(gè)視窗、非全畫面顯示，而且要求左右屏幕的坐標(biāo)點(diǎn)相匹配，才可進(jìn)行測(cè)量。

3. 相位掃描測(cè)量做到了查打一體。相位掃描測(cè)量的廣角單視窗設(shè)計(jì)，視野角度大，有更廣的觀察范圍，因此一個(gè)鏡頭即可完成觀察及測(cè)量，顛覆了傳統(tǒng)工業(yè)內(nèi)窺鏡缺陷測(cè)量方式；傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量，由于受限于雙視窗、視野范圍小，不利于觀察，因此要分別使用觀察鏡頭和測(cè)量鏡頭，增鏡頭更換及探頭穿插耗時(shí)。

4. 相位掃描測(cè)量可以生成3D點(diǎn)云圖、深度圖、剖面圖等重現(xiàn)被測(cè)物體外貌輪廓，其中三維立體點(diǎn)云圖可縮放、平移、旋轉(zhuǎn)等，實(shí)時(shí)驗(yàn)證選點(diǎn)準(zhǔn)確性，避免選點(diǎn)錯(cuò)誤導(dǎo)致的測(cè)量結(jié)果失準(zhǔn)；而傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量是沒有這些功能的。另外，為了方便用戶查看，相位掃描測(cè)量可以同時(shí)顯示測(cè)量圖像和3D點(diǎn)云圖，或者是測(cè)量圖像和剖面圖等，這與傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量的分別顯示左右鏡頭圖像是完全不同的。如下是相位掃描測(cè)量的幾種視圖。

5. 相位掃描測(cè)量的測(cè)量模式更豐富。單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量法除了具有長(zhǎng)度、點(diǎn)到線、深度、面積、折線段這五種基礎(chǔ)測(cè)量模式外，還具有深度剖面、區(qū)域深度剖面、測(cè)量平面、葉片與機(jī)匣間隙、自動(dòng)重復(fù)這五種高級(jí)測(cè)量模式；而這些也是傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量等技術(shù)所不具備的。

? 深度剖面：是一種研究缺陷趨勢(shì)的測(cè)量模式，可通過該功能調(diào)取深度剖面圖，獲取缺陷表面輪廓；

? 區(qū)域深度剖面：可自動(dòng)識(shí)別曲面曲率，并自動(dòng)測(cè)量曲面上缺陷的最低點(diǎn)或最高點(diǎn)，例如渦輪葉片前緣燒蝕、凹坑等；

? 測(cè)量平面：可在測(cè)量區(qū)域內(nèi)建立數(shù)字虛擬平面，消除紅區(qū)，可直接測(cè)量葉尖缺失角的邊長(zhǎng)、夾角、面積等；

? 葉片與機(jī)匣間隙測(cè)量：可自動(dòng)獲取機(jī)匣間隙，提高檢測(cè)效率；

? 自動(dòng)重復(fù)測(cè)量：可自動(dòng)獲取當(dāng)前測(cè)量模式，重復(fù)測(cè)量，適用于批量檢測(cè)。

綜上，單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)，從原理的先進(jìn)性、使用的便利性、測(cè)量結(jié)果的精準(zhǔn)性、解決測(cè)量難題的針對(duì)性、還有用戶查看的便利性等幾個(gè)方面，都比傳統(tǒng)雙物鏡立體測(cè)量、比較測(cè)量等測(cè)量技術(shù)要優(yōu)越，屬于比較高端的測(cè)量技術(shù)。您記住本文介紹的上述特征，就可以在選購工業(yè)內(nèi)窺鏡的時(shí)候輕松識(shí)別這種測(cè)量技術(shù)、避免混淆了。

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